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주사전자현미경 (Field Emission Scanning Electron Microscope)

주사전자현미경 기자재 정보
분류 공실관
분석연구원 배승묵
전화번호 063-469-1901
설치장소 전자현미경실
상태 신청가능
분석료 •FE-SEM
  - 20000원/시간
  - 추가 : 5,000원/시료
•  EDS
  - 25,000원/시간
  - 추가 : 5,000원/시료
•OSO4 Coating(10s,stub) : 30,000원/회
모델명 JSM-5410
제조사 JEOL

신청하기 예약현황 목록

장치용도
섬유, 직물의 표면 분석, 다층구조의 layer 관찰, 소재의 파괴거동 분석
복합재료의 구조 분석, 전자재료, 고분자재료 등 소재의 표면 분석
전자 세라믹 원료 분석 및 특성 개선, 미립자의 입도 및 분포 분석
세부분석/특기사항
Acc voltage : 0.5∼3kV 100V step
5∼30kV 5kV step
Magnification : 15 ∼ 35,000 X
Working distance : 8 ∼ 48mm
Resolution: 3.5nm
Specimen Size : up to 150mm diameter
Specimen movement: X direction: 80mm, Y direction: 40mm, Z direction: 6∼48mm
Pulse processor : Digital
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