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X-선형광분석기 (X-ray Fluorescence Spectrometer)

X-선형광분석기 기자재 정보
분류 공실관
분석연구원 배승묵
전화번호 063-469-1901
설치장소 구조분석실험실
상태 신청가능
분석료 기본료 : 20,000원
• 교내 : 1) 시료전처리  
                 - pellet : 5,000/시료
                 - Glass bead : 15,000/시료
                 - 액체 : 15,000/시료
              2)정성 : 15,000/시료
      3)정량 : 20,000/시료
•교내 직접사용 : 할인 30% 적용
모델명 ZSX PrimusⅡ
제조사 Rigaku

신청하기 예약현황 목록

장치용도
・Be ~ U 까지의 모든 원소 분석
・분석 크리스탈 : LIF, PET, Ge, X시리즈 2
・시료의 정성 및 정량 분석
세부분석/특기사항
1) X-ray irradiation type : Top or bottom irradiation
2) Analysis element range : 5B to 92U
3)Sample turret : 48 sample position or better (12 sample changer)
4)Sample loading type : 2 position loading
5)Sample size : max 40mm dia x 30mm H or more
6)Sample spin : 30 rpm or more
7)Atmosphere : Vacuum, Helium, Air
8)Crystal exchanger : 8-positions Bi-directional or more
9) Analyzing crystal
  (1) K ~ U : LiF(200) or equivalent
  (2) Al ~ Si: PET or equivalent
  (3) P ~ Ca : Ge or equivalent
  (4) F ~ Mg : X series or equivalent
  (5) Crystal for B, C : X series or equivalent
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