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주사탐침현미경 (Scanning Probe Microscope : SPM)

주사탐침현미경 기자재 정보
분류 공실관
분석연구원 배승묵
전화번호 063-469-1901
설치장소 나노라만분광기실(3412호)
상태 신청가능
분석료 기본료 : 15,000원
• 기본료 : 15,000원
• 15,000원/시료(기본 1시간, 3point)
   (기본 mode : Contact, Non-contact)
모델명 NT-MDT(Prima)

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장치용도
・Contact AFM, Tapping AFM
・AFM 측정시 Raman 동시 분석 가능
・nm~um 수준의 표면 형태 및 크기 분석
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