국립군산대학교 공동실험실습관

최첨단 분석기자재를 활용한 분석 및 기술지원, 교육서비스 선도 기관

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엑스선형광분석기(X-ray Fluorescence Spectrometer)

  • 엑스선형광분석기 사진
분석연구원
김명석
연락처
063-469-1906 / 010-4103-3346
설치장소
3105호
상태
신청가능
모델명
ZSX PrimusⅡ
제조사
Rigaku

분석의뢰 신청현황 목록

분석료
기본료 : 50,000원
*시료전처리
•pellet : 10,000원/점
•Glass bead : 15,000원/점
•분쇄 : 20,000/점
*정성: 50,000원/점
(반정량)
*정량: 30,000원/점
(교내 50 %할인)
장치용도
・Be ~ U 까지의 모든 원소 분석
・분석 크리스탈 : LIF, PET, Ge, X시리즈 2
・시료의 정성 및 정량 분석
세부분석/특기사항
1) X-ray irradiation type : Top or bottom irradiation
2) Analysis element range : 5B to 92U
3)Sample turret : 48 sample position or better (12 sample changer)
4)Sample loading type : 2 position loading
5)Sample size : max 40mm dia x 30mm H or more
6)Sample spin : 30 rpm or more
7)Atmosphere : Vacuum, Helium, Air
8)Crystal exchanger : 8-positions Bi-directional or more
9) Analyzing crystal
  (1) K ~ U : LiF(200) or equivalent
  (2) Al ~ Si: PET or equivalent
  (3) P ~ Ca : Ge or equivalent
  (4) F ~ Mg : X series or equivalent
  (5) Crystal for B, C : X series or equivalent